第2回熱刺激電流測定法に関する研究会(TSC研究会)

2013年7月30日(火)研究会 13:30~17:10

東京工業大学 大岡山キャンパス



 東京工業大学(大岡山 西9号館2Fコラボレーションホール)

 

第2回熱刺激電流測定法に関する研究会(TSC研究会)
 
13:30-13:40

事務局より本日の予定説明

13:40-14:40

岩本 光正(東工大)

『基礎講座②』

14:40-15:20

工藤 一浩(千葉大)

『有機半導体デバイスの課題と薄膜作製評価技術』

15:20-15:40

休憩

15:40-16:10

河野 謙司(九大)

『TSCを用いた有機太陽電池の初期劣化解析』

16:10-16:50

栗山 一男(法政大)

『熱刺激電流法によるワイドギャップ半導体中の欠陥準位の評価』

16:50-17:10

吉田 郵司(産総研)

『TSC研究会の今後について』